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[仪器展示] X荧光镀层测厚仪,高精度镀层测厚仪

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  • TA的每日心情
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    2018-9-10 14:15
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    [LV.4]偶尔看看III

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    发表于 2014-3-29 16:13:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
    / f( [1 U* d! R: R  c! u
    5 K0 |8 V% J' P1 U
    一、仪器介绍CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 # f, e+ G% i$ Z
    · 涂镀层厚度测量和/或成分分析,元素范围 Ti - U 9 Q1 S, L5 l9 B2 [  S3 z1 W
    · 可同时进行多达15层元素成分分析 : o. f4 c+ o" w: }1 K; ~
    · 测量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987
    / b" [5 F! ^: u# ?* |7 L1 l- H1 g/ A# C! {
    二、应用
    6 H, q; B) J2 G; R% [* c) I· 多镀层金属厚度测量
    5 ^: b" Y! \; @% q% |· 合金鉴定及化学分析
    / z) g* d+ I& v" a/ P) m· 电镀液分析 2 R  O+ M- h$ O
    · 金成色分析 4 E: Y: K( D3 L- p/ M& L2 |

    9 ?4 i1 E/ r& t0 i4 ^三、特点
    + h4 n& Y- c( a: g· 标准50瓦微焦X射线管3 Y% }9 K; C, ^3 ^- \0 n) S
    · 计数率增加,精度提高 ! J3 Q( j6 o5 V# G1 M
    · 可升级75瓦光管
    1 l6 D: i. d" @* w% O- L$ w# E4 k· 多准直器
    5 g$ J9 n4 d4 G' Q1 \; |( I· 计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡 0 T  F3 l# e7 g1 \# D+ u& {# _( J
    · 镭射聚焦 / E. l. `- `5 a* }
    · 改善系统再现性(消除人为干扰) : H. R4 M( d5 E
    · 标准FP软件包 % H' X0 s' F- a  u
    · 综合应用模式
    ! H8 G, L! w" A% {7 G  c· 简单校准
    0 e3 D% A. ]5 a0 z* `· 开槽式设计样品台,自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
    - C4 P  B: ~2 V' ?/ a$ D/ n· 提供中文等7种语言界面
    3 E* n; K$ F$ G8 E8 U, L7 \9 \+ f3 e' _) Z! ^  W& H5 n
    三、技术指标
    3 f! l+ y+ o, j! R9 {. Z
    X射线激发
    50 瓦微聚焦钨靶X 射线管
    探测器
    氙气填充的正比计数器
    数字脉冲处理
    4096 多道数据分析功能
    ( F/ I  O. G  }+ [自动信号处理,包括死时间修正
    计算机
    奔腾D,3.0GHz,160Gb 硬盘,512Mb
    , s- m9 C% n( l/ ]- I  H内存,MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好
    电源
    85~130 或 215~265 伏,频率范围:47Hz-63Hz
    工作环境
    50℉(10℃)-104℉(40℃),相对湿度达98%,非凝固状态
    工作台行程
    (XYZ 轴可调节)6"×7"×1.9"(15.2cm x 17.8cm×4.8cm)
    & N( F. j" U% Y) W- Q

    + u& A/ A5 B: l) g% C



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